【設(shè)備應(yīng)用領(lǐng)域】

    HAST加速老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導(dǎo)體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試，對上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進(jìn)行測試。

【產(chǎn)品特點(diǎn)】

1) 采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率。

2) 獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3) 門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

4) 試驗(yàn)前排冷空氣;試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

5) 超長效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).

6) 水位保護(hù)，透過試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).

7) tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(150℃)65kg，符合水壓測試6kg.

8) 二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.

9) 安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .

10) 偏壓測試端子耐壓可達(dá)3000V(選配）

11) USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

【性能指標(biāo)】

1. 設(shè)備型號：HE-HAST-40

2. 設(shè)定溫度：+100℃～+132℃( 蒸氣溫度 )

3. 濕度范圍：70~100% 蒸氣濕度

4. 濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH

5. 使用壓力：1.2~89kg(含1atm)

6. 時(shí)間范圍：0 Hr～999 Hr

7. 加壓時(shí)間：0.00 Kg～1.04 Kg / cm2  約 45 分

8. 溫度波動(dòng)均勻度 ： ±0.5℃

9. 溫度顯示精度：0.1℃

10. 壓力波動(dòng)均勻度 ： ±0.1Kg

11. 濕度分布均度：±3%RH

【試驗(yàn)箱材質(zhì)】

1. 試驗(yàn)箱尺寸：直徑400mm x 深500（mm）圓型試驗(yàn)箱

2. 全機(jī)外尺寸：900x  850 x 1800 mm ( W * D * H )立式

3. 內(nèi)桶材質(zhì)：不銹鋼板材質(zhì)（SUS# 316  3 mm）

4. 外桶材質(zhì)：不銹鋼板材質(zhì)或選噴塑

5. 保溫材質(zhì)：巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫

6. 蒸汽發(fā)室加熱管：鈦管加熱